薄膜测厚仪的技术优势

薄膜测厚仪的技术优势

        薄膜测厚仪不仅用于薄膜、电池隔膜、电容器薄膜材料等软质材料的厚度测量，还可用于以下厚度测量：
         (1)金属箔等硬质材料的厚度测量；
         （2）接触测试原理可以更有效地检测太阳能硅片上各点的厚度值；
         （3）通过调整测头，可以完成纸张规定的压力和面积，可以测试各种纸张和纸板材料的厚度；
          薄膜测厚仪的技术优势：
         1.微电脑控制，大液晶显示
        2.进口高精度传感器，保证测试精度
        3、接触面积和测量压力严格按照标准设计，同时支持各种非标定制
        4、测头自动升降，避免人为因素造成的系统误差
        5. 手动和自动双重测量模式更方便客户选择
        6.配备微型打印机，实时数据显示，自动统计，打印，轻松快速获取测试结果
        7、打印数值、最小值、平均值及各测量结果，方便用户分析数据
        8、仪器自动保存100多组测试结果，可随时查看和打印
        9、标准量块校准，方便用户快速校准设备
        10、测厚仪配备专用自动取样器，可实现一键自动多点测量，人为误差小
        11. 软件提供测试结果图形化统计分析，准确直观地向用户展示测试结果
        12、配备标准RS232接口，方便系统与计算机的外接和数据传输