影响覆层测厚仪测量值的因素及解决方法

影响覆层测厚仪测量值的因素及解决方法

        使用测厚仪与使用其他仪器相同。有必要掌握仪器的性能，了解测试条件。采用磁原理和涡流原理的涂层测厚仪都是根据被测基材的电学和磁学特性以及与探头的距离来测量涂层的厚度。因此，被测基板的电磁物理特性和物理尺寸都会受到影响。磁通量和涡流的大小。这会影响测量值的可靠性。
         1.边界间距
        如果探头与被测物体边界、孔、腔等截面的距离变化小于规定的边界间距，由于磁通量不足或涡流载体截面会导致测量误差。如果此时需要测量涂层厚度，只能在相同条件的未涂层表面上进行预校准来测量。 （注：新产品具有*的通过包层校准功能，可以达到3-10%的精度）
         2.基板表面的曲率
        在一个平面对比样品上校准一个初始值，然后测量在包层厚度之后减去这个初始值。或者参考下一篇文章。
         3、母材厚度小
        基底金属必须具有给定的小厚度，以便探头的电磁场可以*包含在基底金属中。厚度小与测量仪器的性能和金属基体的性能有关。可以在不校正测量值的情况下执行测量。对于基板厚度不足的影响，可以采取措施在基板下封闭一块相同的材料来消除它。如果难以确定，或者不能添加基材，可以通过与已知涂层厚度的样品进行比较来确定与额定值的差异。并在测量时考虑到这一点，对测量值进行相应的修正或参照第2条。对于那些可以校准的仪器，通过调节旋钮或按键可以得到准确的直读厚度值。
        反之，利用厚度过小的影响，可以开发测厚仪直接测量铜箔的厚度，如前所述。
         4、表面粗糙度和表面清洁度
        为了在粗糙表面上获得具有代表性的平均测量值，必须进行多次测量。显然，基材或涂层越粗糙，测量的可靠性就越低。为了获得可靠的数据，基材的平均粗糙度 Ra 应小于涂层厚度的 5%。对于表面杂质，应去除。有些仪器有上限和下限，以消除那些“飞点"。
         5、探头测板的力度
        测量探头的力应该是恒定的。并且应该尽可能小。以免造成软涂层变形，使测量值下降。如果活性波动较大，必要时可在两者之间放置一定厚度的坚硬、不导电、刚性的薄膜。因此，可以通过减去膜厚适当地获得剩磁。
         6、外部恒定磁场、电磁场和矩阵剩磁
        测量时应避免靠近具有干扰作用的外部磁场。残磁可能会根据探测器的性能或多或少造成测量误差，但这种现象在结构钢、深冲钢板等中一般不会发生。
         7、涂层材料中的铁磁和导电成分
        涂层中某些铁磁成分的存在，例如某些颜料，会影响测量值。在这种情况下，参考样品的涂层应与被测物的涂层具有相同的电磁性能，并应在校准后使用。采用的方法可以是在铝板或铜板样品上涂上相同的涂层，用涡流法检测后得到对比标准